精密测量中的坐标系与公差基础
测量知识科普
| 阅读量:0
精密测量中的坐标系与公差基础
在精密测量中,坐标系的建立和公差的理解是正确进行测量和结果判定的基础。
测量坐标系
在影像测量仪和三次元测量仪中,通常使用笛卡尔坐标系(X、Y、Z三轴)。建立坐标系的方式主要有:
- 面-线-点法:以工件的一个平面为基准面(Z轴方向),一条边为基准线(X轴方向),一个点为原点。
- 三点法:在基准面上取三个点确定平面,在基准线上取两个点确定方向。
- 最佳拟合:通过多个测量点拟合出最佳坐标系。
常见公差类型
- 尺寸公差:控制线性尺寸的允许变动范围,如±0.05mm。
- 形位公差:包括形状公差(直线度、平面度、圆度、圆柱度)和位置公差(平行度、垂直度、同轴度、位置度等)。
- 表面粗糙度:控制工件表面微观几何形状的误差。
下一篇:光学测量与接触式测量的优缺点对比