精密测量中的坐标系与公差基础

上海德迅智科科技发展有限公司 · 测量知识科普

精密测量中的坐标系与公差基础

测量知识科普 | 阅读量:0

精密测量中的坐标系与公差基础

在精密测量中,坐标系的建立和公差的理解是正确进行测量和结果判定的基础。

测量坐标系

在影像测量仪和三次元测量仪中,通常使用笛卡尔坐标系(X、Y、Z三轴)。建立坐标系的方式主要有:

  1. 面-线-点法:以工件的一个平面为基准面(Z轴方向),一条边为基准线(X轴方向),一个点为原点。
  2. 三点法:在基准面上取三个点确定平面,在基准线上取两个点确定方向。
  3. 最佳拟合:通过多个测量点拟合出最佳坐标系。

常见公差类型

  1. 尺寸公差:控制线性尺寸的允许变动范围,如±0.05mm。
  2. 形位公差:包括形状公差(直线度、平面度、圆度、圆柱度)和位置公差(平行度、垂直度、同轴度、位置度等)。
  3. 表面粗糙度:控制工件表面微观几何形状的误差。
上一篇:如何正确选择适合企业需求的测量设备
下一篇:光学测量与接触式测量的优缺点对比
← 返回测量知识科普

推荐阅读